บทความวิจัยพ.ศ. 2560Control factors optimization on threshold voltage and leakage current in 22 nm NMOS transistor using Taguchi method พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญLeakage currentThreshold voltage22 Nm NMOS Tio2/WsixHigh-K/Metal GateTaguchi Method.งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงInfluence of optimization of control factors on threshold voltage of 18 nm HfO2/TiSi2 NMOS พ.ศ. 2562Process parameter optimisation for minimum leakage current in a 22nm p-type MOSFET using Taguchi method พ.ศ. 2559Analysis the effect of control factors optimization on the threshold voltage of 18 nm PMOS using L27 taguchi method พ.ศ. 2561Characterization & Optimization of 32nm P-Channel MOSFET Device พ.ศ. 2556