การควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวสำหรับเครื่องปฏิกรณ์เคมีที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum Phase

บทคัดย่อ

ระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวสำหรับกระบวนการที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase ได้ถูกพัฒนาขึ้น ซึ่งขั้นตอนการคำนวณสำหรับตัวควบคุมป้อนกลับชนิด Approximate input/output linearization แบบเวลาไม่ต่อเนื่อง ตัวประมาณค่าตัวแปรสภาวะ และ ตัวชดเชยค่าความผิดพลาด ถูกฝังตัวลงบนอุปกรณ์ควบคุมชนิด Field-Programmable Gate Array (FPGA) โดยระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวนี้ได้ถูกทดสอบด้วยการจำลองระบบควบคุมในลูปและได้นำไปประยุกต์ใช้กับชุดอุปกรณ์ทดสอบที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase จากผลการทดสอบแสดงให้เห็นว่าระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวประสบความสำเร็จในการควบคุมชุดอุปกรณ์ให้เข้าสู่ค่าเป้าหมายที่ต้องการได้ภายใต้ข้อจำกัดของกระบวนการ ซึ่งระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวที่พัฒนาขึ้นได้แสดงให้เห็นถึงประสิทธิภาพที่จะประยุกต์ไปสู่ระดับไมโครคอนโทรลเลอร์ ระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวสำหรับกระบวนการที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase ได้ถูกพัฒนาขึ้น ซึ่งขั้นตอนการคำนวณสำหรับตัวควบคุมป้อนกลับชนิด Approximate input/output linearization แบบเวลาไม่ต่อเนื่อง ตัวประมาณค่าตัวแปรสภาวะ และ ตัวชดเชยค่าความผิดพลาด ถูกฝังตัวลงบนอุปกรณ์ควบคุมชนิด Field-Programmable Gate Array (FPGA) โดยระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวนี้ได้ถูกทดสอบด้วยการจำลองระบบควบคุมในลูปและได้นำไปประยุกต์ใช้กับชุดอุปกรณ์ทดสอบที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase จากผลการทดสอบแสดงให้เห็นว่าระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวประสบความสำเร็จในการควบคุมชุดอุปกรณ์ให้เข้าสู่ค่าเป้าหมายที่ต้องการได้ภายใต้ข้อจำกัดของกระบวนการ ซึ่งระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวที่พัฒนาขึ้นได้แสดงให้เห็นถึงประสิทธิภาพที่จะประยุกต์ไปสู่ระดับไมโครคอนโทรลเลอร์

คำสำคัญ