การควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวสำหรับเครื่องปฏิกรณ์เคมีที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum Phase
ชื่อผู้แต่งข้างต้นเป็นข้อความจากระเบียนผลงาน ไม่ได้ผูกกับรหัสนักวิจัย จึงกดดูผลงานอื่นของบุคคลนี้ไม่ได้ — ในคลังนี้ 142,080 ผลงาน (63.6% ของทั้งหมด) มีชื่อผู้แต่งที่เชื่อมกับหน้าผู้แต่งได้ และ 60,298 ผลงาน (27.0%) มีผู้แต่งที่ผูกกับรหัสนักวิจัยจริง ส่วนอีก 81,382 ผลงานไม่มีข้อมูลผู้แต่งเลย (มีชื่อผู้แต่งเป็นข้อความอยู่ 142,009 ผลงาน = 63.5%)
บทคัดย่อ
ระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวสำหรับกระบวนการที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase ได้ถูกพัฒนาขึ้น ซึ่งขั้นตอนการคำนวณสำหรับตัวควบคุมป้อนกลับชนิด Approximate input/output linearization แบบเวลาไม่ต่อเนื่อง ตัวประมาณค่าตัวแปรสภาวะ และ ตัวชดเชยค่าความผิดพลาด ถูกฝังตัวลงบนอุปกรณ์ควบคุมชนิด Field-Programmable Gate Array (FPGA) โดยระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวนี้ได้ถูกทดสอบด้วยการจำลองระบบควบคุมในลูปและได้นำไปประยุกต์ใช้กับชุดอุปกรณ์ทดสอบที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase จากผลการทดสอบแสดงให้เห็นว่าระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวประสบความสำเร็จในการควบคุมชุดอุปกรณ์ให้เข้าสู่ค่าเป้าหมายที่ต้องการได้ภายใต้ข้อจำกัดของกระบวนการ ซึ่งระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวที่พัฒนาขึ้นได้แสดงให้เห็นถึงประสิทธิภาพที่จะประยุกต์ไปสู่ระดับไมโครคอนโทรลเลอร์ ระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวสำหรับกระบวนการที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase ได้ถูกพัฒนาขึ้น ซึ่งขั้นตอนการคำนวณสำหรับตัวควบคุมป้อนกลับชนิด Approximate input/output linearization แบบเวลาไม่ต่อเนื่อง ตัวประมาณค่าตัวแปรสภาวะ และ ตัวชดเชยค่าความผิดพลาด ถูกฝังตัวลงบนอุปกรณ์ควบคุมชนิด Field-Programmable Gate Array (FPGA) โดยระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวนี้ได้ถูกทดสอบด้วยการจำลองระบบควบคุมในลูปและได้นำไปประยุกต์ใช้กับชุดอุปกรณ์ทดสอบที่เกิดปรากฏการณ์ Non-minimum phase จากผลการทดสอบแสดงให้เห็นว่าระบบควบคุมชนิดสมองกลฝังตัวประสบความสำเร็จในการควบคุมชุดอุปกรณ์ให้เข้าสู่ค่าเป้าหมายที่ต้องการได้ภายใต้ข้อจำกัดของกระบวนการ ซึ่งระบบควบคุมอิงแบบจำลองชนิดสมองกลฝังตัวที่พัฒนาขึ้นได้แสดงให้เห็นถึงประสิทธิภาพที่จะประยุกต์ไปสู่ระดับไมโครคอนโทรลเลอร์