การออกแบบระบบควบคุมฝังตัวสำหรับกระบวนการเคมีที่มีความไม่แน่นอนและเกิดการตอบสนองผกผัน
ชื่อผู้แต่งข้างต้นเป็นข้อความจากระเบียนผลงาน ไม่ได้ผูกกับรหัสนักวิจัย จึงกดดูผลงานอื่นของบุคคลนี้ไม่ได้ — ในคลังนี้ 142,080 ผลงาน (63.6% ของทั้งหมด) มีชื่อผู้แต่งที่เชื่อมกับหน้าผู้แต่งได้ และ 60,298 ผลงาน (27.0%) มีผู้แต่งที่ผูกกับรหัสนักวิจัยจริง ส่วนอีก 81,382 ผลงานไม่มีข้อมูลผู้แต่งเลย (มีชื่อผู้แต่งเป็นข้อความอยู่ 142,009 ผลงาน = 63.5%)
บทคัดย่อ
งานวิจัยนี้นำเสนอวิธีการใหม่ในการสร้างตัวควบคุม approximate input-output (I/O) linearization แบบฝังตัวโดยใช้เทคนิคการประมาณด้วยอนุกรมเทเลอร์ สำหรับควบคุมกระบวนการเคมีที่มีความไม่แน่นอนรบกวนระบบ และเกิดการตอบสนองผกผัน โดยระบบควบคุมที่สร้างขึ้นมีการใช้ตัวประมาณค่าตัวแปรสภาวะแบบวงเปิดเพื่อประมาณค่าตัวแปรสถานะที่ไม่สามารถวัดค่าได้ และและใช้ตัวชดเชยค่าความผิดพลาดเพื่อชดเชยค่าความคลาดเคลื่อนที่เกิดจากเซ็นเซอร์ตรวจวัด ระบบควบคุมที่สร้างขึ้นอยู่ในรูปแบบสมการอย่างง่ายซึ่งทำให้สะดวกต่อการบรรจุอัลกอริทึมระบบควบคุมลงสู่อุปกรณ์ควบคุมฝังตัวชนิด FPGA โดยประสิทธิภาพของตัวควบคุมอิงแบบจำลองฝังตัวได้ถูกทดสอบการควบคุมในสภาวะแบบทันทีกับชุดอุปกรณ์ซึ่งจำลองกระบวนการที่เกิดการตอบสนองผกผัน โดยผลการทดสอบแสดงให้เห็นว่าระบบควบคุมที่สร้างขึ้นมีประสิทธิภาพการควบคุมกระบวนการ ทั้งการทดสอบเปลี่ยนแปลงค่าเป้าหมายและการทดสอบการรบกวนกระบวนการ ได้อย่างมีประสิทธิภาพดีกว่าตัวควบคุมแบบ Proportional-Integralงานวิจัยนี้นำเสนอวิธีการใหม่ในการสร้างตัวควบคุม approximate input-output (I/O) linearization แบบฝังตัวโดยใช้เทคนิคการประมาณด้วยอนุกรมเทเลอร์ สำหรับควบคุมกระบวนการเคมีที่มีความไม่แน่นอนรบกวนระบบ และเกิดการตอบสนองผกผัน โดยระบบควบคุมที่สร้างขึ้นมีการใช้ตัวประมาณค่าตัวแปรสภาวะแบบวงเปิดเพื่อประมาณค่าตัวแปรสถานะที่ไม่สามารถวัดค่าได้ และและใช้ตัวชดเชยค่าความผิดพลาดเพื่อชดเชยค่าความคลาดเคลื่อนที่เกิดจากเซ็นเซอร์ตรวจวัด ระบบควบคุมที่สร้างขึ้นอยู่ในรูปแบบสมการอย่างง่ายซึ่งทำให้สะดวกต่อการบรรจุอัลกอริทึมระบบควบคุมลงสู่อุปกรณ์ควบคุมฝังตัวชนิด FPGA โดยประสิทธิภาพของตัวควบคุมอิงแบบจำลองฝังตัวได้ถูกทดสอบการควบคุมในสภาวะแบบทันทีกับชุดอุปกรณ์ซึ่งจำลองกระบวนการที่เกิดการตอบสนองผกผัน โดยผลการทดสอบแสดงให้เห็นว่าระบบควบคุมที่สร้างขึ้นมีประสิทธิภาพการควบคุมกระบวนการ ทั้งการทดสอบเปลี่ยนแปลงค่าเป้าหมายและการทดสอบการรบกวนกระบวนการ ได้อย่างมีประสิทธิภาพดีกว่าตัวควบคุมแบบ Proportional-Integral