บทความวิจัยพ.ศ. 2561AN EXHAUSTIVE ANALYSIS OF SEU EFFECTS IN THE SRAM MEMORY OF SOFT PROCESSOR พ.ศ. 2561 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญFPGABenchmarkLEON3SEUSoftware fault injectionงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงEffect of underlap and its soft error performance in 30 nm Junctionless based 6T- SRAM cell พ.ศ. 2558A soft error study on tri-gate based FinFET and junctionless-FinFET 6T SRAM cell - A comparison พ.ศ. 2559Study and analysis the effect of variable applied voltage on SCIM performances based on FEA พ.ศ. 2563Measurements and stochastic FEA with application in thermomechanical characterization of electronic packages พ.ศ. 2559