บทความวิจัยพ.ศ. 2559SEU rate in 90nm and 180nm of 6T SRAM at NEqO orbit พ.ศ. 2559 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญIonizationSingle event upset (SEU)Near equatorial orbit (NEqO)On-board computer (OBC)RazakSATงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงEffect of underlap and its soft error performance in 30 nm Junctionless based 6T- SRAM cell พ.ศ. 2558AN EXHAUSTIVE ANALYSIS OF SEU EFFECTS IN THE SRAM MEMORY OF SOFT PROCESSOR พ.ศ. 2561A soft error study on tri-gate based FinFET and junctionless-FinFET 6T SRAM cell - A comparison พ.ศ. 2559Low cost NodeMcu based development water rocket measurement system applied to STEM education พ.ศ. 2562Simulation of real-time bit error rate in Low Earth Orbit (LEO) Satellites narrow-band and wide-band telemetry radio link พ.ศ. 2557