บทความวิจัยพ.ศ. 2558Effect of underlap and its soft error performance in 30 nm Junctionless based 6T- SRAM cell พ.ศ. 2558 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญLETTCAD simulationHeavyIonJunctionless 6T-SRAMSEU radiationUnderlapงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงA soft error study on tri-gate based FinFET and junctionless-FinFET 6T SRAM cell - A comparison พ.ศ. 2559Modeling of MTJ and its validation using nanoscale MRAM bitcell พ.ศ. 2560AN EXHAUSTIVE ANALYSIS OF SEU EFFECTS IN THE SRAM MEMORY OF SOFT PROCESSOR พ.ศ. 2561Influence of gate material and process on junctionless FET subthreshold performance พ.ศ. 2559Energy optimization of 6T SRAM cell using low-voltage and high-performance inverter structures พ.ศ. 2562