บทความวิจัยพ.ศ. 2560
The effect of Gate-Induced Drain Leakage (GIDL) on scaled MOSFETS of low power consumptions
พ.ศ. 2560
คำสำคัญ
ScalingGate-induced drain leakage (GIDL)Low power applicationMetal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET)