บทความวิจัยพ.ศ. 2560The effect of Gate-Induced Drain Leakage (GIDL) on scaled MOSFETS of low power consumptions พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญScalingGate-induced drain leakage (GIDL)Low power applicationMetal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET)งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงROLES OF GATE-OXIDE THICKNESS REDUCTION IN SCALING BULK AND THIN-BODY TUNNEL FIELD-EFFECT TRANSISTORS พ.ศ. 2560Study of different parametric variations of MOSFET pressure sensor พ.ศ. 2561Impact of Strain on Fully Depleted Strained Gate Stack Double Gate MOSFET: A Simulation Study พ.ศ. 2558Dual material pile gate approach for low leakage finfet พ.ศ. 2560