บทความวิจัยพ.ศ. 2561NBTI Effects on Circuit Reliability Performance of 4-bit Johnson Counter Based on Different Simulation Configuration Universiti Teknologi MARA พ.ศ. 2561 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญPerformanceReliabilitydynamic NBTINegative-bias temperature instability (NBTI)งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงParticle Swarm Optimization Based NBTI Modeling for FinFET Circuits มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร พ.ศ. 2560Preliminary reliability study of computerized neurobehavioural test method Universiti Tun Hussein Onn Malaysia พ.ศ. 2561Performance Investigation of Binary Counter with Different Clock Gating Networks พ.ศ. 2563An intelligent reliability assessment technique for bipolar junction transistor using artificial intelligence techniques พ.ศ. 2561