บทความวิจัยพ.ศ. 2560Electrical test of resistive and capacitive open defects at data bus in 3D memory IC พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญData bus3D memory ICOpen defectSupply current testงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงElectrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560Defect-oriented test and design-for-testability technique for resistive random access memory พ.ศ. 2558Bi-directional of a built-in test circuit for interconnect defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560Electric field distribution around contaminating wire particles inside gas insulated bus duct พ.ศ. 2557X-ray imaging technology application in fuxin switch equipment test พ.ศ. 2559