บทความวิจัยพ.ศ. 2560Electrical test of resistive and capacitive open defects at data bus in 3D memory IC พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัย แชร์ บันทึกคำสำคัญData bus3D memory ICOpen defectSupply current testงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงElectrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560Defect-oriented test and design-for-testability technique for resistive random access memory พ.ศ. 2558การวิเคราะห์ค่าตัวแปรที่มีผลต่อค่าความผันแปรของความต้านทาน ในกระบวนการขัดหัวอ่านฮาร์ดดิสก์ไดรฟ์ปภากร พิทยชวาล มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี พ.ศ. 2557Application of 2D electrical resistivity tomography to engineering projects: Three case studiesรุ่งโรจน์ อาจเวทย์ มหาวิทยาลัยขอนแก่น พ.ศ. 2558โครงการการแก้ปัญหาย้อนกลับสำหรับข้อมูลสภาพความต้านทานไฟฟ้ากระแสตรงในสามมิติวีระชัย สิริพันธ์วราภรณ์ มหาวิทยาลัยมหิดล พ.ศ. 2556อิทธิพลของเงื่อนไขในการเตรียมฟิล์มบางของ Ca Cu3Ti4 O12 และผลของธาตุเติมแต่งต่อสมบัติทางกายภาพและสมบัติทางไฟฟ้าเพื่อการประยุกต์ใช้เป็นหน่วยความจำแบบตัวต้านทานแบบสุ่มวรวุฒิ มรรคเจริญ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง พ.ศ. 2555การลดข้อบกพร่องประเภทรอยรั่วของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟอังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย พ.ศ. 2557วิธีการ และเงื่อนไขในการเตรียมเซรามิกส์ CaCu3Ti4O12 ต่อสมบัติทางกายภาพและสมบัติทางไฟฟ้าเพื่อการนำไปใช้เตรียมฟิล์มบางสำหรับผลิตหน่วยความจำแบบตัวต้านทานแบบสุ่มวรวุฒิ มรรคเจริญ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง พ.ศ. 2556Bi-directional of a built-in test circuit for interconnect defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560การประดิษฐ์โครงสร้างของโลหะ/ลวดโลหะออกไซด์นาโน/โลหะ สำหรับอุปกรณ์หน่วยความจำเข้าถึงโดยสุ่มแบบความต้านทานราชศักดิ์ ศักดานุภาพ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง พ.ศ. 2555