บทความวิจัยพ.ศ. 2560Electrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัย แชร์ บันทึกคำสำคัญDesign for TestabilityElectrical TestOpen Defectsงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงBi-directional of a built-in test circuit for interconnect defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560Electrical test of resistive and capacitive open defects at data bus in 3D memory IC พ.ศ. 2560The non-destructive test method as a simple way to evaluate the quality of metal core PCBS for high power micro-assemblies พ.ศ. 2560Quality improvement of printed circuit board: A case study of copper in hole มหาวิทยาลัยมหิดล พ.ศ. 2561การปรับปรุงสมบัติเทอร์โมอิเล็กทริกของเดลาฟอสไซท์ฐานทองแดง ด้วยการเจือแทนที่บางส่วนเชรษฐา รัตนพันธ์ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง พ.ศ. 2557Design of non destructive testing on composite material using parallel plate electrical capacitance tomography: A conceptual framework พ.ศ. 2560Recovery of heavy metals from spent etching waste solution of printed circuit board (PCB) manufacturing Universiti Putra Malaysia พ.ศ. 2556การแยกธาตุโลหะทองแดงและตะกั่วจากของเสียจากอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการเพื่อเตรียมเป็นรีเอเจนต์แบบประหยัดสราวุฒิ สมนาม มหาวิทยาลัยราชภัฏเชียงใหม่ พ.ศ. 2557การลดข้อบกพร่องประเภทรอยรั่วของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟอังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย พ.ศ. 2557P-Ca3Co4O9 DOPED Ag AND N-Ca0.97Bi0.03MnO3 MATERIALS FOR THERMOELECTRIC REFRIGERATORทศวรรษ สีตะวัน มหาวิทยาลัยราชภัฏสกลนคร พ.ศ. 2558