บทความวิจัยพ.ศ. 2560Electrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญDesign for TestabilityElectrical TestOpen Defectsงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงElectrical test of resistive and capacitive open defects at data bus in 3D memory IC พ.ศ. 2560Power cable with two joints experimental analysis for defect assessments พ.ศ. 2561Comparative analysis of time and physical redundancy techniques for fault detection พ.ศ. 2560Bi-directional of a built-in test circuit for interconnect defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560Analysis of transistor open fault diagnosis for shunt active power filters พ.ศ. 2560