Command Palette

Search for a command to run...

กลับไปผลการค้นหา
บทความวิจัยพ.ศ. 2558

Defect-oriented test and design-for-testability technique for resistive random access memory

พ.ศ. 2558

คำสำคัญ

Bridge defectDefect-oriented testDesign-for-test (DFT)Resistive Random Access Memory (ReRAM)Undefined State Faults (USFs)

งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียง

การวิเคราะห์ค่าตัวแปรที่มีผลต่อค่าความผันแปรของความต้านทาน ในกระบวนการขัดหัวอ่านฮาร์ดดิสก์ไดรฟ์

ปภากร พิทยชวาล มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี พ.ศ. 2557

การศึกษาปรากฎการณ์สวิทซ์ความต้านทานของโครงสร้าง Ti/ZnO/Mo สำหรับหน่วยความจำเข้าถึงแบบสุ่มชนิดความต้านทาน

ราชศักดิ์ ศักดานุภาพ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง พ.ศ. 2557

Factorial Hidden Markov Model analysis of Random Telegraph Noise in Resistive Random Access Memories

พ.ศ. 2557

Electrical test of resistive and capacitive open defects at data bus in 3D memory IC

พ.ศ. 2560

การวิเคราะห์ปัญหาและการทดสอบความมั่นคงของเทคโนโลยีรหัสผ่านแบบใช้ครั้งเดียว

สมนึก พ่วงพรพิทักษ์ มหาวิทยาลัยมหาสารคาม พ.ศ. 2558

Design and analysis of static random access memory by schmitt trigger topology for low voltage applications

พ.ศ. 2559

การประดิษฐ์โครงสร้างของโลหะ/ลวดโลหะออกไซด์นาโน/โลหะ สำหรับอุปกรณ์หน่วยความจำเข้าถึงโดยสุ่มแบบความต้านทาน

ราชศักดิ์ ศักดานุภาพ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง พ.ศ. 2555

การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะ สำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์

ชลิดา สารใจ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย พ.ศ. 2556

Energy-efficient Fault-tolerance Storage System

มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์ พ.ศ. 2557

การลดความไม่ตรงตามข้อกำหนดที่มีสาเหตุจากความผิดพลาดจากมนุษย์ในกระบวนการประกอบสปินเดิลมอเตอร์สำหรับฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ

วาทศิลป์ วาสะสิริ พ.ศ. 2560