บทความวิจัยพ.ศ. 2558Defect-oriented test and design-for-testability technique for resistive random access memory พ.ศ. 2558 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญBridge defectDefect-oriented testDesign-for-test (DFT)Resistive Random Access Memory (ReRAM)Undefined State Faults (USFs)งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงElectrical test of resistive and capacitive open defects at data bus in 3D memory IC พ.ศ. 2560Electrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560Built-in self-configurable architecture for memristor based memories พ.ศ. 2562Failure analysis and reliability study of NAND flash-based solid state drives พ.ศ. 2559Design of eddy current testing probe for surface defect evaluation พ.ศ. 2562