การเตรียมเซรามิก เฟร์โรอิเล็กตริก เลดเซอร์โคเนต- เลดนิกเกิลไนโอเบต ด้วย เทคนิค กระบวนการ รีแอกชัน-ซินเทอริง
ชื่อผู้แต่งข้างต้นเป็นข้อความจากระเบียนผลงาน ไม่ได้ผูกกับรหัสนักวิจัย จึงกดดูผลงานอื่นของบุคคลนี้ไม่ได้ — ในคลังนี้ 142,080 ผลงาน (63.6% ของทั้งหมด) มีชื่อผู้แต่งที่เชื่อมกับหน้าผู้แต่งได้ และ 60,298 ผลงาน (27.0%) มีผู้แต่งที่ผูกกับรหัสนักวิจัยจริง ส่วนอีก 81,382 ผลงานไม่มีข้อมูลผู้แต่งเลย (มีชื่อผู้แต่งเป็นข้อความอยู่ 142,009 ผลงาน = 63.5%)
บทคัดย่อ
งานวิจัยนี้มุ่งเน้นที่จะศึกษาการเตรียมเซรามิกเพอรอฟสไกต์ในระบบ (1–x)PbZrO3–xPb(Ni1/3Nb2/3)O3 (PZ-PNN) โดยเปลี่ยนแปลงสัดส่วน x จาก 0.00 ถึง 0.50 ด้วยเทคนิคกระบวนการรีแอ็กชัน-ซินเทอริง (Reaction-sintering process) จากนั้นทำการศึกษาโครงสร้างผลึกของเซรามิก PZ-PNN ด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray diffraction techniques, XRD) พบว่าเมื่อสัดส่วนของ PNN เพิ่มมากขึ้นโครงสร้างผลึกของเซรามิก PZ-PNN มีการเปลี่ยนโครงสร้างผลึกจากออร์โทรอมบิกเป็นรอมโบฮีดรอล และจากรอมโบฮีดรอลเป็นคูบิกเสมือนตามลำดับ เมื่อทำการตรวจสอบพฤติกรรมการเปลี่ยนเฟสด้วยเทคนิคดิฟเฟอเรนเชียลสแกนนิงแคลอริเมทรี (Differential Scanning Calorimetry, DSC) พบว่ามีการเปลี่ยนเฟสจากแอนติเฟร์โรอิเล็กทริกเฟสไปเป็นเฟร์โรอิเล็กทริกเฟส ที่สัดส่วน 0.00?x?0.08 โดยอุณหภูมิการเปลี่ยนเฟสจากแอนติเฟร์โรอิเล็กทริกเฟสไปเป็นเฟร์โรอิเล็กทริกเฟสจะลดลงตาม ลำดับ เมื่อสัดส่วนของ PNN เพิ่มสูงขึ้น นอกจากนี้ยังทำการศึกษาโครงสร้างจุลภาคด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning electron microscope, SEM) และตรวจสอบสมบัติไดอิเล็กทริกและเฟร์โรอิเล็กทริกของเซรามิกที่เตรียมได้ จากผลการตรวจสอบสมบัติไดอิเล็กทริกพบว่าสัดส่วนของ PNN สามารถลดอุณหภูมิการเปลี่ยนเฟส (Tm) ของเซรามิกในระบบนี้ได้ ยิ่งไปกว่านั้นสมบัติฮิสเทอเรซิสยังชี้ให้เห็นว่าเซรามิก PZ-PNN แสดงค่าโพลาไรเซชันอิ่มตัว (saturated polarization, PS) และ ค่าโพลาไรเซชันคงเหลือ (remnant polarization, Pr) ลดลงเมื่อสัดส่วนของ PNN เพิ่มขึ้น และยังพบอีกว่าค่าสนามไฟฟ้าบังคับ (coercive field, EC) จะลดลงเมื่อสัดส่วนของ PNN เพิ่มขึ้นเช่นกัน