บทความวิจัยพ.ศ. 2563COMPREHENSIVE MULTISITE EFFICIENCY EQUATION for SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT Universiti Teknologi Malaysia พ.ศ. 2563 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญConcurrent testCost of testMultisite efficiencyMultisite testingParallel test.งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงMEASUREMENT OF THE ABSOLUTE EFFICIENCY OF A SEMICONDUCTOR DETECTOR USING AN ISOTROPIC SPHERICAL SOURCE พ.ศ. 2561Experimental simulation analysis for single phase transformer tests พ.ศ. 2563The performance of multiple imputations for different number of imputations พ.ศ. 2559GUI based testing tool for transformer พ.ศ. 2557Electrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560