บทความวิจัยพ.ศ. 2563Compact test and diagnosis pattern generation for multiple fault pairs in single run พ.ศ. 2563 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญDiagnosisATPGFault pairStuck-at-faultsZBDDงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงAnalysis of BBNs over fault detection and diagnosis in industrial application พ.ศ. 2561A fault detection algorithm using multiple residual generation filters พ.ศ. 2560Detection of fault during power swing in test system interconnected with DG Universiti Teknologi MARA พ.ศ. 2562Path coverage test case generation using genetic algorithms มหาวิทยาลัยสงขลานครินทร์ พ.ศ. 2560Electrical tests for capacitive open defects in assembled PCBs พ.ศ. 2560