บทความวิจัยพ.ศ. 2561An approach to measure transition density of binary sequences for x-filling based test pattern generator in scan based design พ.ศ. 2561 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญLFSRBenchmark testingScan based designsSwitching activityTesting timeTransition densitiesงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงOn-chip generation of functional tests with reduced delay and power พ.ศ. 2560Performance analysis of low-complexity welch power spectral density for automatic frequency analyser พ.ศ. 2562Survey on mutation-based test data generation พ.ศ. 2558Performance study of soft local binary pattern over local binary pattern under noisy images พ.ศ. 2559A new method for building low-density-parity-check codes พ.ศ. 2562