บทความวิจัยพ.ศ. 2560On-chip generation of functional tests with reduced delay and power พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญFunctional testsBit Swapping LFSR (BS-LFSR)Built-in test generationReachable statesงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงAn approach to measure transition density of binary sequences for x-filling based test pattern generator in scan based design พ.ศ. 2561FPGA-based design system for a two-segment fibonacci LFSR random number generator พ.ศ. 2560FPGA-based digital baseband transmission system performance tester research and design พ.ศ. 2560Test register insertion at RTL based on reduced BIST Universiti Teknologi Malaysia พ.ศ. 2560