บทความวิจัยพ.ศ. 2560On-chip generation of functional tests with reduced delay and power พ.ศ. 2560 ติดต่อนักวิจัย แชร์ บันทึกคำสำคัญFunctional testsBit Swapping LFSR (BS-LFSR)Built-in test generationReachable statesงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงการทดสอบความเที่ยงตรงของโปรแกรมการทดสอบเวลาปฏิกิริยาบนระบบแอนดรอยด์เพชรรัตน์ ภูอนันตานนท์ พ.ศ. 2560ประสิทธิภาพของการทดสอบแบบปรับเหมาะด้วยคอมพิวเตอร์ โดยประยุกต์ใช้โมเดลการตอบสนองข้อสอบแบบพหุมิติสมบัติ ท้ายเรือคำ มหาวิทยาลัยมหาสารคาม พ.ศ. 2559การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของการทดสอบแบบปรับเหมาะด้วยคอมพิวเตอร์โดยใช้กลยุทธ์หลายขั้นตอนแบบปรับระดับชั้นที่มีตัวแปรและลำดับในการพิจารณาที่แตกต่างกันวุฒิพงษ์ ชินศรี มหาวิทยาลัยรังสิต พ.ศ. 2560การทดสอบแบบปรับเหมาะด้วย คอมพิวเตอร์สำ หรับการวัดด้านเจตพิสัยสุชาดา สกลกิจรุ่งโรจน์ มหาวิทยาลัยสุโขทัยธรรมาธิราช พ.ศ. 2560การพัฒนาระบบการทดสอบปรับเหมาะด้วยคอมพิวเตอร์แบบไฮบริด ภายใต้วิธีการคัดเลือกข้อสอบ และวิธีการควบคุมการใช้ข้อสอบซํ้าที่แตกต่างกันโชติกา ภาษีผล จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย พ.ศ. 2563Preliminary reliability study of computerized neurobehavioural test method Universiti Tun Hussein Onn Malaysia พ.ศ. 2561ผลของการให้คะแนนที่มีต่อประสิทธิภาพการทดสอบแบบปรับเหมาะด้วยคอมพิวเตอร์สมศักดิ์ ลิลา มหาวิทยาลัยบูรพา พ.ศ. 2560ประสิทธิภาพของวิธีวิเคราะห์องค์ประกอบจำกัดและวิธีถดถอยโลจิสติก ในการตรวจสอบการทำหน้าที่ต่างกันของข้อสอบเอกรูปกิตติมา พฤกภูษณ มหาวิทยาลัยราชภัฏกาญจนบุรี พ.ศ. 2559Robust Designs of Step-Stress Accelerated Life Testing Experiments for Reliability Prediction พ.ศ. 2556การเปรียบเทียบประสิทธิภาพการตรวจสอบการทำหน้าที่ต่างกันของข้อสอบแบบให้คะแนนหลายค่า โดยวิธีทดสอบอัตราส่วนความควรจะเป็นวิธีเบส์เซียน และวิธีโพลี-ซิปเทสท์ไพรัตน์ วงษ์นาม มหาวิทยาลัยบูรพา พ.ศ. 2559