บทความวิจัยพ.ศ. 2557A comprehensive solution to automated inspection device selection problems using electre methods พ.ศ. 2557 ติดต่อนักวิจัย แชร์ บันทึกคำสำคัญComparative analysisMCDMISAutomated inspection device selectionELECTRE IIIIIIVTRIงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงNumerical analysis algorithm for inspection policy procedure พ.ศ. 2559Performance comparison of artificial intelligence techniques for non-intrusive electrical load monitoring พ.ศ. 2561A new method to optimize geometric design of electrostatic sensor electrodes using particle swarm optimization Universiti Teknologi Malaysia พ.ศ. 2559DESIGN AND SIMULATION ANALYSIS OF AN ELECTROSTATIC ACTUATOR FOR IMPROVING THE PERFORMANCE OF SCANNING PROBE NANOLITHOGRAPHY พ.ศ. 2560การจัดลำดับความสำคัญข้อบกพร่องด้วยกระบวนการการลำดับชั้นเชิงวิเคราะห์แบบฟัซซี่: กรณีศึกษากระบวนการผลิตชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ขวัญใจ อินหันต์ มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์ พ.ศ. 2559การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะ สำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ชลิดา สารใจ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย พ.ศ. 2556การปรับปรุงกระบวนการตรวจสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์เพื่อลดอัตราการปฏิเสธรุ่นอุบลรัตน์ หวังรักษ์ดีสกุล มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ พ.ศ. 2557Ontology Application Workflow of Six Sigma DMAIC Methodology in Quality Control Solving Problem Electronic Manufacturing Plant: A Case Study พ.ศ. 2563Development of Automatic Decision System in the Next Item Selection for Computerized Adaptive Testingรัชกฤช ธนพัฒนดล มหาวิทยาลัยบูรพา พ.ศ. 2561Effective sampling-based assessment method for evaluating electrical engineering programme performance Universiti Teknologi MARA พ.ศ. 2561