บทความวิจัยพ.ศ. 2563Interfacial assessment of degraded amorphous silicon module using scanning probe microscopy พ.ศ. 2563 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญSurface roughnessAmorphous silicon solar moduleIntrinsic layerMechanical degradationScanning probe microscopeงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงDynamic Characteristics of Amorphous Photovoltaic Module by Light-induced Degradationปรุงศักดิ์ อัตพุฒ มหาวิทยาลัยราชภัฏสวนสุนันทา พ.ศ. 2561Experimental study on the variation of degraded silicon solar cells parameters พ.ศ. 2560Modelling of Amorphous Silicon Thin-Film Photovoltaic Module Performance Using Current-Voltage Characteristics พ.ศ. 2561Fabrication and analysis of amorphous silicon TFT พ.ศ. 2560