บทความวิจัยพ.ศ. 2562A temperature characterization of (Si-FinFET) based on channel oxide thickness พ.ศ. 2562 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญTemperatureFinFETOxide thicknessNano-sensorงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงCharacterization of silicon nanowire transistor พ.ศ. 2562Effects of downscaling channel dimensions on electrical characteristics of InAs-FinFET transistor พ.ศ. 2562Process optimization and thin film characterization of ZnO layer for sensor applications พ.ศ. 2562Thermal drift characteristics of capacitive pressure sensors พ.ศ. 2559Current and conductance modulation at elevated temperature in silicon and InAs-based spin field-effect transistors พ.ศ. 2556