บทความวิจัย พ.ศ. 2556
การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะ สำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ ชื่อผู้แต่งข้างต้นเป็นข้อความจากระเบียนผลงาน ไม่ได้ผูกกับรหัสนักวิจัย จึงกดดูผลงานอื่นของบุคคลนี้ไม่ได้ — ในคลังนี้ 142,080 ผลงาน (63.6% ของทั้งหมด) มีชื่อผู้แต่งที่เชื่อมกับหน้าผู้แต่งได้ และ 60,298 ผลงาน (27.0%) มีผู้แต่งที่ผูกกับรหัสนักวิจัยจริง ส่วนอีก 81,382 ผลงานไม่มีข้อมูลผู้แต่งเลย (มีชื่อผู้แต่งเป็นข้อความอยู่ 142,009 ผลงาน = 63.5%)
คำสำคัญ Measurement System Analysis Attribute data Acceptance single sampling plan cost of inspection. ข้อมูลเชิงคุณลักษณะ ค่าใช้จ่ายของการตรวจสอบ แผนการสุ่มตัวอย่างเชิงเดี่ยว วิเคราะห์ระบบการวัด
งานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียง การสร้างเครื่องกำเนิดค่าสุ่มจริงโดยใช้สัญญานอลวน กฤดากร กล่อมการ
การประยุกต์ใช้เทคนิคการหาค่าเหมาะสมเชิงคอมบินาทอริคเพื่อสร้างตัวแปรสุ่มหลายตัวที่สัมพันธ์กันสำหรับการจำลองมอนติคาร์โล อนามัย นาอุดม
การออกแบบและพัฒนาซอฟท์แวร์สำหรับการจำลองสถานการณ์แบบสุ่มด้วยสเปรดชีท จุฑา พิชิตลำเค็ญ
การปรับปรุงวิธีการค้นแบบสุ่มหลายจุดสำหรับการหาค่าเหมาะสมต่ำสุดของ ฟังก์ชันมัลติโมดอล ชวนพิศ ถันชนนาง
การปรับปรุงกระบวนการตรวจสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์เพื่อลดอัตราการปฏิเสธรุ่น อุบลรัตน์ หวังรักษ์ดีสกุล
การสุ่มตัวอย่างและการผสานข้อมูลตามแบบแผนการวิจัยแบบผสมวิธี กมลพิพัฒน์ ชนะสิทธิ์
วิธีใหม่ในการสุ่มตัวอย่างแบบผสมสำหรับการจำแนกประเภทของชุดข้อมูลที่ไม่สมดุล อนันตพร หรรษคุณาฒัย
อัลกอริธึมเชิงพันธุกรรมสำหรับแบบจำลองการจัดตารางการผลิตแบบตามสั่ง ในโรงงานตู้ปาเป้าอิเล็คทรอนิกส์ วิจิตรา กิจชัยนุกูล
โปรแกรมวิเคราะห์จุดสั่งซื้อแบบพลวัต โดยเทคนิคเหมืองข้อมูล วรวุฒิ จงจำรัสศิลป์
การพัฒนาระบบการออกข้อสอบเลือกตอบแบบสุ่ม สาขาคอมพิวเตอร์ธุรกิจ วิทยาลัยราชพฤกษ์ วรณัฐ ถ้ำทองถวิล