บทความวิจัยพ.ศ. 2556การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะ สำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ชลิดา สารใจ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย พ.ศ. 2556 ติดต่อนักวิจัยแชร์ บันทึกเข้าสู่ระบบเพื่อบันทึกคำสำคัญMeasurement System AnalysisAttribute dataAcceptance single sampling plancost of inspection.ข้อมูลเชิงคุณลักษณะค่าใช้จ่ายของการตรวจสอบแผนการสุ่มตัวอย่างเชิงเดี่ยววิเคราะห์ระบบการวัดงานวิจัยในหัวข้อใกล้เคียงการสร้างและหาประสิทธิภาพของชุดทดลองอิเล็กทรอนิกส์ วิชาวงจรไฟฟ้ากระแสตรงวิสิทธิ์ ลุมชะเนาว์ มหาวิทยาลัยราชภัฏบุรีรัมย์ พ.ศ. 2558การศึกษาอิทธิพลของความยาวสายการผลิตต่อค่าวัดคุณลักษณะสำหรับแผนการชักตัวอย่างแบบต่อเนื่องระดับเดียว มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ พ.ศ. 2557การวางแผนการผลิตสำหรับอุตสาหกรรมแผงวงจรรวมโดยประยุกต์ใช้โมเดลทางคณิตศาสตร์และโปรแกรมคอมพิวเตอร์Pattara Leeprute มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ พ.ศ. 2561การสังเคราะห์และออกแบบระบบวงจรจำลองค่าอุปกรณ์ที่เป็นอิสระจากอุณหภูมิมนตรี ศิริปรัชญานันท์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ พ.ศ. 2552Full textDOI